[測試] 免破壞改裝USB輸出空載/帶載漣波電壓測試
看板PC_Shopping (個人電腦購買)作者wolflsi (港都狼仔)時間12年前 (2014/02/22 14:50)推噓16(16推 0噓 9→)留言25則, 20人參與討論串1/3 (看更多)
狼窩好讀版:
http://wolflsi.pixnet.net/blog/post/56066151
話說最近有文章在討論主機板USB輸出電壓乾淨與否,是否會影響外接DAC聲音純淨度,因
為手上並沒有這類高階主機板與外接DAC,所以就以手邊測試的行動電源,搭配手上的示
波器與小型電子附載,以製作USB治具的方式,在不破壞及修改裝置的前提下,測量USB於
空載、帶載0.5A、1A下的漣波電壓
被測裝置:PQI ABG-100A 5200mAh行動電源
測試示波器:太克TDS3014B數位螢光示波器
測試探棒:太克原裝1:10探棒
電子負載:EBD-A10
行動電源空載下漣波波形與電壓:
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest1.jpg

啟動電子負載,分別設定0.5A與1A:
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest2.jpg

行動電源於帶載0.5A下漣波波形與電壓:
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest3.jpg

行動電源於帶載1A下漣波波形與電壓:
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest4.jpg

結論:
1.行動電源升壓輸出電路,隨著耗用電流上升,漣波頻率與Vpp也隨之加大
2.可以不用破壞裝置,透過製作USB治具來測試出漣波數據
3.進行測試,採用正確的方法會取得較真實的數據
報告完畢,謝謝收看
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※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc)
◆ From: 211.74.135.11
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繼續補上測試
將上述0.5A漣波波形週期調整至1μs,可以詳細看出實際波形
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest5.jpg

將上述1A漣波波形週期調整至1μs,可以詳細看出實際波形
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest6.jpg

測試其他行動電源同於1A輸出下的漣波波形與Vpp電壓
FSP
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/rippletest7.jpg

Koffer(應與小米接近,同樣都採用TI的方案)
http://www.iamxtreme.net/andre/LSI/ripple/koffer.jpg



可以看到不同行動電源間,因電路品質好壞,輸出漣波波形與Vpp電壓都有所不同
※ 編輯: wolflsi 來自: 211.74.135.11 (02/22 22:56)
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